Spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde DW-WDX200

(Pour les instruments de test du ciment)

Le spectromètre de fluorescence X multicanal compact DW-WDX200, avec une configuration de 10 canaux fixes et la capacité d'analyser 10 éléments simultanément, est capable d'effectuer une analyse élémentaire de dix éléments arbitraires de Na à U en fonction des besoins des utilisateurs. Cet instrument est largement utilisé dans le ciment, l'acier, la métallurgie des poudres, le charbon, le pétrole, le kaolin, le verre, les matériaux réfractaires et la protection de l'environnement et constitue donc un choix idéal pour le contrôle qualité dans les grandes et moyennes entreprises.

Domaines d'application

Matériaux de construction (ciment, verre, céramique)

Métallurgie (acier, métaux non ferreux)

Pétrole (oligo-éléments S, Pb, etc.)

Ingénierie chimique

Géographie et exploitation minière

Inspection de commodité

Contrôle de la qualité

Inspection des oligo-éléments dans le corps humain

Application DW-WDX200

Spécifications techniques

Précision du contrôle de la température Valeur de réglage ±0.1 °C
Éléments mesurables 10 éléments arbitraires de Na à U
Tube à rayons X Tube à rayons X à fenêtre d'extrémité fine Be de 400 W fabriqué par la société Varian, anode Rh (anode Pd en option)
Algorithmes d'analyse Algorithme de coefficient empirique et algorithme de coefficient a théorique
Alimentation Alimentation électrique stabilisée purifiée AC220V, 1 KVA
Alimentation haute tension 200 W (50 kV 4 mA)
Stabilité de la tension et du courant du tube pendant 12 heures moins de 0.05%
Pompe à vide biphasé~220V, 2 litres
Ordinateur industriel ordinateur industriel 104
Précision d'analyse °n-1(24 heures, teneur en pourcentage) W0.05 %
Temps de mesure d'un seul échantillon W3-5 minutes (y compris le temps de changement des échantillons et de pompage sous vide)
Détecteur détecteur proportionnel de gaz + détecteur proportionnel scellé ; analyseur de hauteur d'impulsion indépendant à 10 voies et 1024 canaux
Système de vide station de pompage à vide indépendante, entretien facile
Le degré de vide le plus élevé inférieure à 5 Pa
Système de flux de gaz Stabilisateur de densité de gaz hautement sophistiqué avec stabilité de pression jusqu'à ± 0.003 KPa
Logiciel d'analyse Équipé d'un logiciel pour deux algorithmes d'analyse quantitative : algorithme à coefficient empirique et algorithme à coefficient a théorique. Grâce à la technologie innovante d'analyse du spectre complet, chaque ligne de spectre peut être tracée et corrigée en temps opportun, ce qui améliore considérablement la répétabilité et la stabilité de l'analyse quantitative et sert également de preuve intuitive du diagnostic de l'état de l'instrument. Des mesures complètes pour l'autodiagnostic sont fournies. Le protocole de communication série RS-232 intégré, le protocole TCP/IP (S/C basé sur Socket) et le protocole OPC (serveur OPC) offrent tous des moyens de partager des données avec le système DCS ou QCS.

Fonctionnalité

Excellentes qualités

  • Analyse rapide et non destructive d'échantillons de poudre et de vrac
  • Le MCA multicanal haute vitesse offre une mesure rapide de chaque pic d'élément, ce qui permet non seulement de déboguer l'instrument et de diagnostiquer les pannes, mais également d'améliorer la stabilité.
  • Comparé aux spectromètres de grande puissance à balayage séquentiel, le DW-WDX200 obtient une précision d'analyse adéquate même lorsque des puissances inférieures et un temps de mesure égal sont adoptés, ce qui confère non seulement à l'instrument des performances de coût élevées, mais évite également l'usure du goniomètre, prolonge la durée de vie du tube à rayons X, minimise les pannes de l'alimentation haute tension et réduit les coûts de maintenance de l'ensemble de l'instrument.

Élément caractéristique Rayonnement X

Les différents éléments ont des orbitales électroniques extranucléaires d'énergies de liaison différentes, par conséquent, ils émettent des photons X porteurs d'énergies différentes les uns des autres lorsqu'ils sont excités, c'est-à-dire que chaque élément émet des rayons X à sa propre énergie spéciale, représentant la caractéristique de cet élément et par conséquent appelés rayons X caractéristiques. Les rayons X caractéristiques de chaque élément ont leur longueur d'onde spécifique ; ainsi, lorsque nous détectons des rayons X d'une longueur d'onde spécifique, nous pouvons identifier la présence de l'élément intéressé dans un échantillon.

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Principe de la spectroscopie dispersive en longueur d'onde

Lorsque de nombreux éléments coexistent dans un échantillon et sont irradiés par des rayons X primaires émis par le tube à rayons X, ils émettent leurs rayons X caractéristiques correspondants, qui sont en général appelés FLUORESCENCE X. La séparation et la mesure des rayons X caractéristiques de ces éléments s'appellent spectroscopie de fluorescence X.

Les rayons X caractéristiques des différents éléments ayant des longueurs d'onde spécifiques, ils peuvent être séparés en utilisant la diffraction cristalline basée sur l'équation de Bragg. Ce type de spectroscopie est appelé spectroscopie dispersive en longueur d'onde.

Équation de Bragg : 2dsinθ= nλ.

Où d est l'espacement interplanaire des plans du réseau des cristaux, θ est l'angle d'incidence et de diffraction, λ est la longueur d'onde du rayonnement incident, N est l'ordre de diffraction et est un entier.

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Présentation du logiciel

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  1. Système logiciel auto-développé pour les analyseurs de fluorescence X, applicable au système d'exploitation Windows
  2. Manipulation facile réalisée grâce à une interface d'exploitation dans toutes les langues chinoises
  3. Grâce à la technologie innovante d'analyse du spectre complet, chaque ligne spectrale peut être tracée et corrigée en temps opportun, ce qui améliore considérablement la répétabilité et la stabilité de l'analyse quantitative et sert également de preuve intuitive du diagnostic de l'état de l'instrument.
  4. Équipé d'un logiciel pour deux algorithmes d'analyse quantitative : algorithme à coefficient empirique et algorithme à coefficient a théorique, parmi lesquels ce dernier algorithme réduit le nombre d'échantillons standard et conserve en même temps une précision adéquate
  5. Traitement des données d'analyse, y compris l'ajustement linéaire et toutes sortes de corrections de matrices
  6. Calcul de la valeur caractéristique à partir de la valeur d'analyse
  7. Interaction homme-machine, permettant de définir et de modifier les paramètres
  8. La production en temps opportun des données d'analyse et du rapport
  9. Mesures complètes d'autodiagnostic

Spectre du spectromètre dispersif en longueur d'onde

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Résultats de la mesure du ciment

Norme de ciment XS04-2

XS04-2 Si Al Fe Ca Mg
Valeur standard 12.71 2.86 3.09 43.29 1.6
Valeur moyenne 12.724 2.862 3.074 43.318 1.584
Valeur max 12.79 2.98 3.11 43.35 1.69
Valeur min 12.66 2.83 3.06 43.3 1.62
Autonomie 0.03 0.15 0.05 0.05 0.09
SD 0.015391 0.01091 0.004891 0.017776 0.014327
RSD (%) 0.120967 0.36987 0.160313 0.041037 0.875739

Résultats de la mesure des agglomérats

Vous trouverez ci-dessous les résultats des tests répétés de l'échantillon inconnu :

Non. Échantillon non . Temps de mesure Fe (%) CaO (%) MgO (%) SiO2 (%) So3(%)
1 17 # 39395.56597 53.85 12.13 3.44 5.76 0.041
2 17 # 39395.56875 53.87 12.09 3.44 5.75 0.041
3 17 # 39395.57083 53.9 12.07 3.43 5.73 0.039
4 17 # 39395.57361 53.91 12.1 3.43 5.75 0.04
5 17 # 39395.57639 53.92 12.08 3.45 5.73 0.039
6 17 # 39395.57847 53.87 12.08 3.44 5.74 0.043
7 17 # 39395.58125 53.91 12.06 3.43 5.76 0.041
8 17 # 39395.58403 53.86 12.07 3.43 5.79 0.04
9 17 # 39395.58681 53.88 12.08 3.44 5.78 0.039
10 17 # 39395.58889 53.89 12.09 3.46 5.74 0.041

Test de stabilité de 18 heures effectué sur un échantillon inconnu 17# ; les résultats après un total de 306 fois sont les suivants :

Constituant Normale Min Max SD
Fe (%) 53.89 53.851 53.92 0.013
CaO (%) 12.082 12.06 12.13 0.015
MgO (%) 3.443 3.43 3.47 0.011
SiO2 (%) 5.75 5.73 5.79 0.011
So3(%) 0.0401 0.038 0.043 0.001

Résultats de la mesure des scories de convertisseur

Vous trouverez ci-dessous les résultats des tests répétés de l'échantillon inconnu :

Non. Échantillon No. Temps de mesure Fe (%) SiO2 (%) CaO (%) MgO (%)
1 D1-2702A 39398.70278 12.74 7.73 50.42 9.17
2 DI-2702A 39398.70556 12.74 7.73 50.38 9.17
3 DI-2702A 39398.70833 12.72 7.72 50.33 9.16
4 DI-2702A 39398.71111 12.71 7.71 50.32 9.15
5 DI-2702A 39398.71389 12.75 7.76 50.37 9.17
6 DI-2702A 39398.71597 12.73 7.85 50.29 9.12
7 DI-2702A 39398.71875 12.71 7.83 50.26 9.16
8 DI-2702A 39398.72153 12.73 7.81 50.27 9.12
9 DI-2702A 39398.72361 12.74 7.87 50.26 9.17
10 DI-2702A 39398.72639 12.75 7.86 50.25 9.2

Test de stabilité de 15 heures effectué sur un échantillon inconnu D1-2702A# ; les résultats après un total de 253 fois sont les suivants :

Constituant Normale Min Max SD
Fe (%) 12.773 12.71 12.75 0.019
SiO2 (%) 7.836 7.71 7.85 0.018
CaO (%) 50.227 50.42 50.25 0.027
MgO (%) 9.231 9.12 9.2 0.038